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传感器芯片测试

传感器芯片测试

微机电系统(MEMS)芯片及相关传感器(如加速度、压力、角速度传感器)、陀螺仪、惯性测量单元(IMU)的测试与校准,是确保其性能可靠、实现精准测量的关键环节。

地心科技提供的单轴与多轴转台,搭配多路滑环及气路旋转单元,可为各类MEMS器件施加高精度、多自由度的运动激励,精准复现其实际工作状态下的动态条件,从而高效完成传感芯片的标定、补偿与可靠性测试,有力保障器件出厂性能与长期稳定性。


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